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  • 水稻整穗考種測量系統

    TPDS-X-1 plus?水稻整穗考種測量系統采用先進的圖像處理技術,根據深度學習算法綜合設計的一款軟件。該設備主要應用在水稻室內考種時期,對水稻穗粒數、一/二次枝梗數量和長度測量,為水稻形態學的研究、水稻良種選育提供良好的檢測工具。

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    廠商性質:生產廠家
    更新日期:2024-03-30
  • TPY-BX-1玉米表型檢測系統

    玉米表型檢測系統不僅可以測量凸包面積、外接矩形面積、長寬比、側視角緊湊度、側視角投影面積、株高、莖稈節間距和莖粗、葉長、葉片彎曲度、莖葉夾角和千粒重等指標,這些高通量表型參數為玉米品種篩選、產量預測、基因定位、功能解析等方面發揮著至關重要的作用。

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    產品價格:面議
    廠商性質:生產廠家
    更新日期:2024-04-03
  • TPYM-G-1玉米株高測量儀

    TPZW-G-1玉米株高測量儀是一種便攜、快捷的株高測量設備,常用于玉米高產育種,理想株型篩選用,也可實現快速、高效的對玉米、水稻、小麥、油菜、等作物的株高測量,同時可滿足對玉米穗位的測量。

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    廠商性質:生產廠家
    更新日期:2024-03-26
  • TPM-BX-1小麥表型檢測系統

    TPM-BX-1小麥表型檢測系統可測量小麥株高、夾角、莖粗、小麥畝穗數、理論產量、穗長、小穗數、總粒數和千粒重等指標,這些表型參數為小麥品種篩選、小麥產量預測、麥穗動態發育、基因定位、功能解析和小麥遺傳育種中發揮著至關重要的作用。

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    產品價格:面議
    廠商性質:生產廠家
    更新日期:2024-04-09
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