TPD-BX-1大豆表型檢測系統是一款利用圖象來分析大豆表型相關性狀的檢測系統，可以測量大豆夾角、莖粗、總粒數和千粒重等指標，這些高通量表型參數為大豆品種篩選、產量預測、基因定位、功能解析等方面發揮著至關重要的作用。大豆育種研究中，大豆表型參數和大豆產量、品質、抗逆性等密切相關，進而獲取這些參數也顯得尤為重要，因此我們推出了大豆表型檢測儀。該系統廣泛適用于各農科院、高校、育種公司、種子站的大豆研究

TPS-BX-1水稻表型檢測系統可測量水稻畝穗數、理論產量、水稻穗粒數、穗長、水稻劍葉夾角、莖粗、水稻株高、一/二次枝梗數量和長度、各枝梗對應的穗粒數、著粒密度、穗長、總粒數和千粒重等指標，這些表型參數為水稻品種篩選、水稻產量預測、稻穗動態發育、基因定位、功能解析和水稻遺傳育種中發揮著至關重要的作用。

玉米表型檢測系統不僅可以測量凸包面積、外接矩形面積、長寬比、側視角緊湊度、側視角投影面積、株高、莖稈節間距和莖粗、葉長、葉片彎曲度、莖葉夾角和千粒重等指標，這些高通量表型參數為玉米品種篩選、產量預測、基因定位、功能解析等方面發揮著至關重要的作用。

TPM-BX-1小麥表型檢測系統可測量小麥株高、夾角、莖粗、小麥畝穗數、理論產量、穗長、小穗數、總粒數和千粒重等指標，這些表型參數為小麥品種篩選、小麥產量預測、麥穗動態發育、基因定位、功能解析和小麥遺傳育種中發揮著至關重要的作用。